在现代电子测试中,上海一恒BHO-401A老化试验箱被广泛应用,温度控制对电子设备的测试具有决定性影响,测试箱温度控制系统具有大滞后、非线性、时变等特性。采用一般PID控制会出现加热时间长、超调量大等问题。要取得好的控制效果,需要调节比例、积分、微分控制作用。模糊PID控制技术是一门非常具有潜力的控制技术,它模拟人的思维方式,能有效解决传统PID控制方法无法解决的问题,模糊PID技术已在工业控制领域、家电自动化领域和其他领域得到了广泛的应用[1]。本文尝试将模糊PID控制技术应用在老化测试箱的温度控制当中。

老化箱的系统结构

上海一恒BHO-402A老化试验箱的温度控制系统是以微处理器为核心,采用PID控制,使得温度可以控制在测试范围当中,加热丝的加热功率为2 000 W,温控箱的温度范围为0~150℃,实用的电压为市电交流220 V。整个系统由4个模块组成,如图1所示,采用MUC控制,其内部包括A/D和D/A转换模块、继电器和辅助继电器驱动电路。老化测试箱内部有用于温度检测的PT100,以及用于加热的加热丝。